Серия РФ 651

В основу работы прибора положен теневой метод. Микрометр состоит из двух модулей: излучателя 1 и приемника 2. Излучение полупроводникового лазера 3 коллимируется объективом 4. При размещении объекта 5 в области коллимированного пучка формируемое теневое изображение сканируется линейкой ПЗС-фотоприемников 6. По положению теневой границы (границ) процессор 7 рассчитывает положение (размер) объекта.